近日,真理光學隆重發布了新款產品——LT2200系列粒度儀,該儀器是真理光學基于用戶對高性價比儀器的需求傾力打造而成,加持了多項創新和專利技術。是繼LT3600系列激光粒度儀、Spraylink超高速智能噴霧粒度儀和Nanolink納米粒度儀之后,真理光學的全新一代超高速智能激光粒度分析系統。
真理光學技術團隊具有超過二十年的粒度表征及應用開發的經驗,匯聚了中國顆粒學會前理事長、珠海歐美克創始人張福根博士等精英人才,是中國乃至全球為數不多的既具有光衍射基礎理論研究能力,又具有完全自主研發和生產粒度儀產品能力的公司。
LT2200加持了真理光學首創的衍射愛里斑反常變化(ACAD)的補償修正技術,開發出全新的反演算法,無需為樣品增加吸收系數等軟件方面“特殊處理”,即可解決ACAD現象對光能數據反演的干擾。不僅如此,LT2200系列還對散射光能的反演算法進行了全面優化和重要改進,使用戶無需選擇分析模式,即可在全粒徑范圍獲得準確可靠的粒度結果。此外,該儀器測量時無需更換透鏡,也無需使用標準樣校準,簡化了測量流程,提升了檢測效率。
LT2200系列激光粒度儀采用偏振濾波專利技術,摒棄傳統的針孔和機械調整,實現了高穩定激光偏振設置和空間濾波;采用了真理光學獨創的高速全息信號處理技術,測量速度高達創紀錄的每秒20000次,測量時間典型值小于10秒;光路系統采用斜入射反傅里葉光路配置及格柵式大角度檢測技術,確保不漏檢任何粒徑和形狀的顆粒;測量范圍為0.02um-2200um, 適用于制藥,電池材料,地質,水文,化工和磨料等諸多行業的顆粒粒度分析。另外,LT2200系列粒度儀完全復合ISO13320衍射法測量技術標準,對全量程的米氏散射理論和夫瑯禾費衍射理論兩種光學模型都可選擇。
每一次的創新,都是一種超越。據真理光學相關負責人介紹,真理光學始終秉承用創新和品質助力發展的理念,以科學為先導,結合先進的技術手段和精細化管理,求為每一位客戶提供精湛的技術、卓越的產品和滿意的服務體驗。讓我們期待LT2200系列粒度儀的優良表現,也期待真理光學給我們帶來更多的驚喜!