2015年11月4日，JEOL在俄勒岡州波特蘭舉行的國際失效分析與測試研討會(ISTFA)上展示了其最新推出的InTouchScope觸控式系列掃描電鏡的最新型號產品JSM-IT100。JSM-IT100是一款簡單易用、功能全面的研究級掃描電鏡，并符合緊湊型的人體工程學設計。

　　JSM-IT100可擴展EDS分析功能，并為多種探測器預留接口。InTouchScope觸控式掃描電鏡不僅功能全面，而且耐用，能夠很好的滿足不同實驗室的需求。它能夠提供高分辨率，并能夠在高真空和低真空模式下提供系列加速電壓。

　　IT100是一款非常直觀，并具有高通量分析能力的電鏡，其設計能夠幫助任何實驗室簡化工作流程。觸摸屏操作還是傳統的鍵盤和鼠標操作，任由實驗人員選擇。快速數據采集使得成像和樣品分析變得簡單。

　　利用IT100掃描電鏡，能夠輕松快速獲取高質量的的二次電子和背散射電子像。采用硅漂移探測技術的嵌入式JEOL EDS系統，具有面分布分析、多點分析、自動漂移補償、線掃描、Partial area和Mapping Filter等功能。

　　JEOL備受歡迎的InTouchScope系列產品還包括高壓/低壓可選的NeoScope臺式電鏡，以及具有高效分析和大塊完整樣品成像分析功能的JSM-IT300LV。

編譯：秦麗娟