-- 為NORAN System 7微區分析系統提供最優的探測器尺寸、分析速度和分辨率

中國上海，2012年8月10日 —— 7月30日，科學服務領域的世界領導者賽默飛世爾科技（以下簡稱：賽默飛）在2012顯微鏡學和微區分析大會上發布新型賽默飛UltraDry硅漂移（電制冷）X射線探測器。該探測器為同類最優，為金屬和礦物、先進材料和半導體等行業應用提供更快速、準確的（微區）X射線分析。它進一步提升了廣受贊譽的賽默飛NORAN System 7 X射線微區分析系統的性能。

賽默飛副總裁兼分子光譜和微區分析產品總經理John Sos指出：“我們的UltraDry硅漂移（電制冷）探測器在超高的采集速率下具有優異的分辨率，這在當今的納米技術和先進材料應用分析中是至關重要的！我們對該探測器的卓越改進使我們NORAN System 7系統整體能以最快的速度獲得最多的數據。加之使用我們獨有的高級數據處理工具 —— COMPASS軟件和直接倒相軟件，用戶可以滿懷信心地將其EDS分析結果提升至全新的水平。”

UltraDry硅漂移（電制冷）探測器性能的提升是其設計和技術工藝改進的直接成果。該探測器提升了能量分辨率的界限，在Mn-Kα的能譜譜峰分辨率高達123eV。采用尺寸較小先進的場效應晶體管（FET）與晶體一體化的卓越設計在最大程度上減小了導致電噪聲的分布電容。UltraDry探測器能夠高效地操控脈沖堆積處理，使其在高速處理中具有最佳的分辨率和最小的死時間比率。無需外部附屬設備或液氮制冷。

新型的UltraDry探測器提供寬范圍的晶體有效面積選擇（10mm²，30mm²，60mm² 和100mm²），并具有先進的窗口工藝技術和獨一無二的可分析至元素鈹的輕元素完整的分析算法。其他關鍵特征包括：
• 旨在使樣品至探測器距離最小化和探測器立體角最大化的用戶定制設計
• 獨有的旨在創造最大工作距離范圍的垂直開槽的準直器
• 操作環境溫度至35°C

NORAN System 7是非常適用于金屬和采礦、先進材料、學術研究、半導體和微電子、失效分析、缺陷審查等材料電子顯微微區應用分析的卓越平臺！