沃特世新型的Xevo G2 Tof臺式系統問世 — 將一流的性能、多用途和易用性融為一體

　　Xevo G2 Tof具有任何臺式MS系統中最高的靈敏度、最準確質量測定的定量和定性性能

　　米爾福德, 馬薩諸塞州 - 2011年1月10日

　　沃特世公司 (NYSE:WAT) 今天介紹了具有UPLC®/MSE 和 QuanTof™技術的Waters® Xevo® G2 Tof (飛行時間) 質譜儀 (MS)，該儀器為需滿懷信心對復合樣品中未知化合物進行鑒別和定量的科學家們提供了任何臺式MS系統中靈敏度最高的準確質量定量和定性性能。

　　“為了推動科學的發展，我們的客戶告訴我們，他們需要超高效液相色譜(UPLC®)的所有靈敏度、選擇性和速度優點的同時，還要求有高分辨率準確質量MS的定量和定性性能。”沃特世公司分部飛行時間質譜儀產品經理Gordon Kearney稱，“在UPLC數據采集速率和有限的實驗室工作效率下，其它質譜儀具有更差的質量分辨率，從而無法從單一分析中于樣品的每個可檢測組分上獲取準確質量前體和碎片離子的信息。憑借UPLC/MSE 和 QuanTof技術，Xevo G2 Tof不再存在這樣的局限性，從而使我們的客戶可成功進行實驗，而無需折中處理。”

　　借助QuanTof技術，Xevo G2 Tof將市場領先、研究級別的SYNAPT® G2技術引進易于使用的臺式系統，使系統的定量和定性性能達到嶄新的水平。QuanTof 技術將創新型高電廠推進器和雙階反射技術與最佳飛行時間幾何結構中的新型離子檢測系統相結合。二者的結合使得唯獨能在UPLC分離兼容的采集速率下取得的高分辨率、準確質量和定量性能達到嶄新的高度。

　　進一步促進系統性能的是數據采集采用UPLC/MSE技術，這種數據采集方法允許使用者從單一數據組中查看高質量的、確鑿的準確質量前體和碎片離子數據;基本上，它可在任何時間獲取任何數據。

　　在整個質譜儀家族中，沃特世公司采用廣泛的、通用離子源結構包括UPLC液相接口和離子源，這些通用的離子源結構使Xevo G2 Tof的實驗選項和研究應用的數量最大化， 它們由nanoACQUITY UPLC® 和 TRIZAIC™ UPLC進樣和離子源組成，各種離子源包括：電噴霧電離源(ESI)、nanoflow ESI、大氣壓化學電離源(APCi)、ESI/APCi組合源(ESCi)、大氣壓固相分析探頭 (ASAP)及大氣壓氣相色譜源(APGC)。

　　沃特世工程精簡(Engineered Simplicity™)技術大大提高了用戶對于Xevo G2 Tof性能和多功能的可及性。