美國TSI公司將于2017 年11 月21－24 日參加在河北省石家莊市舉辦的第十三屆全國氣溶膠會議。本次會議由中國顆粒學會氣溶膠專業委員會主辦，河北工程大學承辦，中國顆粒學會、中國科學院地球環境研究所、中國科學院大氣物理研究所、國際空氣與廢棄物管理學會中國學會、北京粉體技術協會協辦。旨在交流我國氣溶膠領域的最新研究成果，搭建氣溶膠領域產學研學術交流平臺，提升我國氣溶膠研究水平。美國工程院院士/明尼蘇達大學David Y. H. Pui 教授和中國科學院地球環境研究所曹軍驥研究員擔任本次會議共同主席，本次會議規模約 400 人。 

美國TSI公司于會上針對大氣顆粒物的測量，展示以下多種氣溶膠檢測技術和設備。

 

TSI最新推出的SMPS™ 掃描電遷移粒徑譜儀，被廣泛用于測量1微米以下的氣溶膠粒徑分布的測量標準。選配3777型納米增強儀以及3086型DMA差分電遷移分析儀（1nm-DMA）組件后，SMPS粒徑譜儀能夠測量納米的粒徑范圍擴展至1nm。

 

3321 空氣動力學粒徑譜儀(APS™) 提供 0.5 至 20 微米粒徑范圍粒子的高分辨率、實時空氣動力學檢測。這些獨特的粒徑分析儀還檢測 0.37 至 20 微米粒徑范圍粒子的光散射強度。APS 粒徑譜儀通過向同一粒子提供成對數據向有興趣研究氣溶膠組成的人士開辟了令人振奮的新途徑。

 

TSI 3330型光學顆粒物粒徑譜儀簡單輕便，能夠對顆粒物濃度和粒徑譜分布進行快速和準確的測量。基于TSI公司40年氣溶膠儀器設計的經驗，本款產品使用120度光散射角收集散射光強度和精密的電子處理系統，從而得到高質量和高精度的數據。同時，TSI工廠嚴格的標定標準也確保儀器的精確性。該產品是廣大環境研究機構和環境監測部門進行顆粒物監測分析和源解析的最佳儀器。

 

敬請大家屆時光臨美國TSI公司位于四美五洲國際酒店四樓的A12展位！