儀器信息網譯 新奧爾良-2015年3月8日，日本理學（Rigaku）在Pittcon 2015展會上推出了NEX QC Quant EZ系列低成本、高分辨率臺式能量色散X射線熒光光譜儀(EDXRF)。

　　NEX QC QuantEZ系列EDXRF能夠分析多種基質當中的元素含量，從任何粘度的液體到固體、薄膜、合金、泥漿、粉末和糊劑。QuantEZ分析軟件是專門為NEX QC QuantEZ系列產品設計的，它不僅使用方便，并且十分先進和強大，能夠滿足最復雜的分析。

　　NexQC QuantEZ系列產品從NEX QC系列元素分析儀器發展而來，其主要面對重工業用戶。QuantEZ分析軟件提供校準和日常操作所需要的所有功能，可在具備Microsoft® Windows®操作系統的筆記本電腦或臺式電腦上運行。

　　NEXQC QuantEZ系列產品包括NEX QC QuantEZ EDXRF和NEX QC+ QuantEZ EDXRF兩個型號。其中NEX QC QuantEZ EDXRF對針對常規元素的分析進行了優化，NEX QC+ QuantEZ EDXRF則針對分析時間和分析通量要求比較高的應用領域。NEX QC+ QuantEZ采用了下一代硅漂移探測器(SDD)技術，使得計數能力有了很大的提高，擁有非常好的光譜分辨率，確保在最短的時間內獲取高精度的分析結果。