TESCAN將在2014年9月7日-12日在捷克共和國首都布拉格舉行國際顯微學會議上推出GAIA3 FIB-SEM工作站。由于LYRA FIB-SEM在國際市場上的成功，TESCAN此次推出了新款GAIA3 FIB-SEM。該GAIA3擁有新開發的超高分辨率掃描電鏡鏡筒和集成拉曼系統。在同類產品中獨具特色，可滿足生物技術，納米技術和半導體領域的應用需求。

　　TESCAN首席運營官Martin Zadrazil表示：“ GAIA3繼承了我們為客戶提供超高分辨率的傳統。GAIA3將擴大我們在市場上的客戶群體。”

　　成熟的第三代TESCAN設計，確保了儀器最高的可靠性和正常的運行時間，以及TEM樣品制備無與倫比的易用性，先進的電子束和離子光刻及各種形式的3D特性，包括冷凍一體化。該GAIA3的分辨率可達到<1.5納米@1 keV和<3納米@30千電子伏。