日立高新技術公司于2013年9月2日發布了UH4150 紫外/可見/近紅外分光光度計。 紫外可見分光光度計是一種使用棱鏡和衍射光柵，將白光分解成單色光，照射在樣品上，通過對透過的光進行檢測，來對物質進行鑒定和計算濃度的裝置，廣泛用于材料、環保、制藥和生物等領域。
U-4100紫外/可見/近紅外分光光度計可實現足以令“著名日立光度計品牌”自豪的精度，對于在實際固體樣品檢測方面需要高質量數據的用戶，例如半導體開發、光學樣品和新材料領域的用戶而言，是最佳的選擇。UH4150在秉承U-4100的高度可靠性的同時，提供更高通量的測定，技術更加先進（圖1）。下面將簡單介紹UH4150的特點。
U-4100紫外/可見/近紅外分光光度計可實現足以令“著名日立光度計品牌”自豪的精度，對于在實際固體樣品檢測方面需要高質量數據的用戶，例如半導體開發、光學樣品和新材料領域的用戶而言，是最佳的選擇。UH4150在秉承U-4100的高度可靠性的同時，提供更高通量的測定，技術更加先進（圖1）。下面將簡單介紹UH4150的特點。
圖1. UH4150的外觀
檢測器切換時附近波長測定數據例
（金納米棒的吸收光譜）
鏡面反射率測定示例
檢測器產品線
UH4150的特點：
（1）切換檢測器波長時UH4150可實現高精度的測定。
安裝在積分球上的多個檢測器可在紫外-可見-近紅外的波長范圍內進行測定。由于使用日立專業的積分球結構技術和信號處理技術等，將檢測器切換時（信號水平的差異）吸光度值的變化降到最小。
（金納米棒的吸收光譜）
（2）日立高性能的棱鏡-光柵雙單色器系統,可實現低雜散光和低偏振。
UH4150采用棱鏡-光柵（P-G）雙單色器的光學系統，秉承U-4100光學系統的特點。棱鏡-光柵（P-G）系統與常見的光柵-光柵（G-G）系統相比,S和P偏振光強度沒有大的改變。即使對于低透過率和反射率的樣品，UH4150也可實現低噪音測定。
UH4150采用棱鏡-光柵（P-G）雙單色器的光學系統，秉承U-4100光學系統的特點。棱鏡-光柵（P-G）系統與常見的光柵-光柵（G-G）系統相比,S和P偏振光強度沒有大的改變。即使對于低透過率和反射率的樣品，UH4150也可實現低噪音測定。
（3）平行光束可實現反射光和散射光的精確測定。
入射角對固體樣品鏡面反射率的測定非常重要。對于會聚光束，由于入射角根據透鏡的焦距等因素會不同，因此，像導電多層膜和棱鏡等光學薄膜的模擬設計值將與實際測定值不同。
但對于平行光束，相對于樣品入射角始終相同，實現了高精度鏡面反射率的測定。此外，平行光束可用于擴散率（霧度）的評價和透鏡透過率的測定。
（4）可提供適合不同測定目的的多種檢測器。
（4）可提供適合不同測定目的的多種檢測器。
可使用八種不同材料、尺寸和形狀的積分球。
（5）采用全新人體工學設計。
改進樣品室門，提升操作性。為了便于更換樣品和附件的操作，采用了符合人體工學的設計。
（6）兼容多種U-4100附件。
通用附件適用于兩種型號,U-4100型附件也可用在UH4150型,由于附件可拆卸，適合更多的測定類型。
（7）比U-4100型更高的樣品通量。
在秉承U-4100型光學系統高性能的同時，UH4150提供更高通量的測定。之前型號的儀器在1 nm數據間隔下測定時，掃描速度必須是600 mm/min。UH4150型可在1,200 nm/min的掃描速度下以1 nm的間隔進行測定，顯著縮短測定時間。UH4150在約2分鐘內可從240 nm測定到2,600 nm。對需要在紫外-可見-近紅外波長范圍內測定的樣品，如太陽能反射材料，尤其有效。
改進樣品室門，提升操作性。為了便于更換樣品和附件的操作，采用了符合人體工學的設計。
（6）兼容多種U-4100附件。
通用附件適用于兩種型號,U-4100型附件也可用在UH4150型,由于附件可拆卸，適合更多的測定類型。
（7）比U-4100型更高的樣品通量。
在秉承U-4100型光學系統高性能的同時，UH4150提供更高通量的測定。之前型號的儀器在1 nm數據間隔下測定時，掃描速度必須是600 mm/min。UH4150型可在1,200 nm/min的掃描速度下以1 nm的間隔進行測定，顯著縮短測定時間。UH4150在約2分鐘內可從240 nm測定到2,600 nm。對需要在紫外-可見-近紅外波長范圍內測定的樣品，如太陽能反射材料，尤其有效。
| 掃描速度為600 nm/min的 太陽能反射材料的反射光譜 |
掃描速度為1,200 nm/min的 太陽能反射材料的反射光譜 |
