LEXTOLS4500納米檢測顯微鏡將激光顯微鏡與掃描探針顯微鏡*3（SPM）組合在同一臺機器上，從而允許更大范圍放大倍率下的觀察與測量（從50倍到100萬倍）。奧林巴斯公司與Shimadzu公司聯(lián)合開發(fā)了LEXTOLS4500。

    LEXTOLS4500集成了激光顯微鏡功能，對于復雜表面非接觸性3D測量，具有行業(yè)領先的可重復性*1和準確性*2保證，新的功能比如一鍵單擊即可自動獲取3D圖像，圖像獲取速度大約是現(xiàn)有奧林巴斯各種型號產(chǎn)品的兩倍。

    ●主要特性

    LEXTOLS4500納米檢測顯微鏡功能上的新特性：單一掃描區(qū)域里的高分辨率觀察和高精確性測量；設計便于新手操作，包括自動3D圖像獲取功能；3D圖像獲取速度大約是現(xiàn)有奧林巴斯各型產(chǎn)品的兩倍；組合了光學顯微鏡、激光顯微鏡和探針顯微鏡功能的一體機。

    ●發(fā)布背景

    近年來，隨著便攜式數(shù)據(jù)裝置和工業(yè)設備變得越來越小，性能越來越高，而使用人員同時還要求這些產(chǎn)品中使用的傳感器和其它電子組件更加小型化，性能更強。由于這些組件也要求嚴格的質(zhì)量控制，因此也需要能夠測量表面特性，比如梯度和粗糙度的高度可靠的3D形狀測量器械。同時，需要細微表面特性量化控制的行業(yè)范圍擴展迅速，包括自動和特色材料部。相應地，樣本的特性也更多樣化，包括具有復雜形狀，或粘連特性的樣本，尤其對于研發(fā)中使用，以及生產(chǎn)過程中使用的器械，對其的要求日益增加。奧林巴斯3D測量激光顯微鏡LEXT系列可以觀察并測量尺寸從幾百微米到亞微米的樣品，卓越的3D表面特性的能力使其在工業(yè)和專業(yè)研究領域得到廣泛使用。目前，奧林巴斯公司已添加了新的型號，以滿足在更大范圍里以更高的精確性進行測量和觀察的要求。

    ●主要特性

    LEXTOLS4500納米檢測顯微鏡的特性

    1.高分辨率觀察和更大范圍的高準確性測量

    由于大范圍上的測量通常要使用低放大倍率，因此此類圖像的清晰范圍有個限制。為解決這個問題，新的顯微鏡可以實施高分辨率觀察，并使用拼接功能在大范圍上實施高精確性測量，即將625幅不同放大倍率的圖像組合在一起，從而可以用高分辨率來識別小的區(qū)域。而過去的大多數(shù)激光顯微鏡一直用于研發(fā)，及其相關領域，以觀察很小的樣本，以高精確性來觀察很大的范圍的能力也在工業(yè)中開啟了顯微鏡作為質(zhì)量控制工具的先河。

    2.設計易于新手操作，包括自動3D圖像獲取功能

    傳統(tǒng)上3D成像需要復雜的設定（亮度和上下限）。采用新的智能掃描模式后，用戶一鍵單擊即可獲取3D圖像。該功能設計允許即使是初次使用者，獲取的結果也等同于經(jīng)驗豐富的操作者。

    3.3D圖像獲取的速度大約是現(xiàn)有奧林巴斯各種型號的兩倍

    新型的Ultra-Fast型號獲取3D圖像的速度大約是現(xiàn)有Fast型號的兩倍，比Fine型號快九倍。加速了樣品觀察和測量，大幅提高了效率。

    4.單一器械組合了光學顯微鏡、激光顯微鏡和探針顯微鏡*5功能

    SPM技術與LEXTOLS4100功能的組合意味著可以用很大范圍的放大倍率來進行觀察和測量，從幾十倍到100萬倍。也就是說可以將該顯微鏡用于3D測量，從微米范圍里相對比較大的樣本到納米尺寸的樣本。此外，使用光學或激光顯微鏡功能，該顯微鏡可以快速而準確地切換到超高放大倍率SPM觀察（大約100萬倍），而不會丟失要觀察的位置的蹤跡。比如，在研究所里對新材料實施形狀測量時，可以實施各種類型的觀察，而不用變換樣本，并且能夠以最適合的放大倍率進行測量。

    *1：反復的測量值之間的偏差程度。計量學里的技術詞匯。

    *2：測量值與其真實值的差距。計量學里的技術詞匯。

    *3：通過探針機械式地在樣本表面移動的納米級別的觀察和測量技術。

    *4：1納米是十億分之一米。

    *5：掃描探針顯微鏡將探針靠近樣本表面，實現(xiàn)納米級的觀察和測量