徠卡偏光顯微鏡新產品DM4500P、DM2500P ：設計用于各種偏振光檢驗：無論是用于巖相學、礦物學、結構特性還是液晶檢驗– 新型偏光顯微鏡都能滿足各種要求的理想選擇。配合各種各樣的選用設備，徠卡顯微系統有限公司的偏光顯微鏡同樣是工業應用的理想伙伴。無論是用于分析玻璃、塑料、紡織品和纖維還是半導體行業的測試顯示，徠卡顯微鏡總是能保證最精確、可靠的結果。
靈活度最大的變型：
• Leica DM4500 P：用于研究與開發
• Leica DM2500 P：用于日常偏振應用
精確的結果：
新型Leica 偏光顯微鏡將向您展現顯微鏡能有多簡單、多可靠。方便的操作原理使您能改進工作流程，把注意力完全集中在手頭的工作上。
不言而喻的優點：
• 偏振對比度提高，能獲得更多的標本信息
• 操作簡單，能在透偏光及落射偏光下對標本進行精確的評估
• 符合人機工效性操作原理，工作更輕松
• 可集成相機和軟件模塊，以便更迅速、更輕松地反復制作文檔
