上海悌可光電公司代理的美國THEMIS紅外高光譜圖像分析系統，是目前世界上最先進的可以做紅外光譜與圖像合一的檢測、分析儀器，系統主要包含專利的紅外分光元件、頂級的紅外相機以及簡單易用的操作軟件。可以同時檢測整個視場上每個點的紅外光譜并成像。從中你可以得知不同光譜的分布位置，或是目標物在不同波長下呈現的圖像。（波長范圍：900~2500nm）

    該系統是美國（NASA）國家航空航天局應用的具有專利技術的產品。并且是同類產品中首個獲得當地政府出口銷售許可資格和備案文號。為此，我們非常誠摯、熱忱的邀約翹盼已久的國內專家學者，運用國際上最先進的技術設備，開創全新的科學研究手段，攜手為國家的科研事業貢獻應有的力量。