日前，由中國電子科技集團第45所承擔的國際科技合作項目自動光學檢測(AOI)設(shè)備技術(shù)合作，通過了國家級驗收，技術(shù)指標達到了國外同類設(shè)備水平，標志著自動光學檢測(AOI)設(shè)備實現(xiàn)了國產(chǎn)化，填補了國內(nèi)空白。

    據(jù)了解，當今電子裝備在結(jié)構(gòu)上強調(diào)實現(xiàn)小型化、微型化、模塊化，以滿足高性能、高可靠、大容量、小薄輕的要求。線路板上元器件組裝密度提高，其線寬、間距、焊盤越來越細小，已到微米級，復(fù)合層數(shù)越來越多。傳統(tǒng)的人工目測(MVI)和針床在線測試(ICT)檢測因“接觸受限”(電氣接觸受限和視覺接觸受限)所制,已不能完全適應(yīng)當今制造技術(shù)的發(fā)展，自動光學檢測系統(tǒng)(AOI)已經(jīng)成為IC制造業(yè)的必然需求，正越來越多地用來代替?zhèn)鹘y(tǒng)MVI和ICT技術(shù)，進行檢測，用于監(jiān)視和保證生產(chǎn)過程的品質(zhì)。目前，我國自動光學檢測系統(tǒng)(AOI)設(shè)備主要依賴進口，一直被以色列、美國、日本等國家所壟斷。中國電子科技集團第45所，與加拿大開展了卓有成效的國際科技合作，共同研發(fā)自動光學檢測(AOI)設(shè)備，通過引進、消化吸收、再創(chuàng)新，終于研制出了具有國際水平的自動光學檢測(AOI)設(shè)備，打破了國外的壟斷與技術(shù)封鎖，使進口產(chǎn)品降價30%。

    中國電子科技集團第45所通過技術(shù)引進和消化吸收，攻克了高速圖像采集和硬件處理技術(shù)，缺陷識別和處理技術(shù)，細微圖形采像技術(shù)等三項關(guān)鍵技術(shù)，并成功應(yīng)用于AOI設(shè)備的研制，目前已獲得專利4項，申報并受理發(fā)明專利6項，發(fā)表學術(shù)論文6篇，獲省部級科學技術(shù)二等獎1項。該項目的完成，標志著我國在自動光學檢測設(shè)備領(lǐng)域具備與國外主流設(shè)備展開競爭的實力，提高了我國電子專用檢測設(shè)備的制造水平。