該系列熒光壽命光譜儀專門為超快熒光壽命的測量而設計。在設計過程中，著重解決了傳統光路的構架對待測超快信號的脈沖展寬效應，從而大幅度提高了熒光壽命測量的精度。

該系列熒光光譜儀可以搭配不同的激發光源和探測器，以保證用戶獲得不同的熒光壽命測量范圍。

主要技術特點：

- 熒光壽命測試范圍5ps至ms范圍（由激發光源與探測器決定）
- 采用最先進的時間相關單光子計數技術（TCSPC）進行熒光壽命測量,具有最高的測量精度
- 采用大尺寸樣品室，更便于對樣品的操作
- 運用獨特的光路設計,防止脈沖展寬并消除色散，使短壽命測試結果更加精準
- 光譜測量范圍可覆蓋紫外-可見-近紅外
- 可以與多種高重復頻率的飛秒或皮秒脈沖激光器配合使用,提高實驗室已有設備的利用率
- 緊湊型一體化設計,占用空間更小
- 便于操作的熒光壽命分析軟件

主要測量功能：

- 熒光壽命/瞬態光譜測試
- 時間分辨熒光光譜
- 準穩態光譜測試
- 全自動時間分辨各項異性光譜測量（需要電動偏振器選件）
- 溫度掃描過程中的熒光壽命及時間分辨熒光光譜測量（需選擇制冷機或TE制冷樣品架選件）

主要技術指標：

- 光學結構: 激發光路與發射光路垂直
- 工作原理: 時間相關單光子探測
- 壽命范圍:  ~5ps-50us
- 光譜帶寬: 1nm~40nm
- 時間色散:  零（運用雙減單色儀）
- 光衰減器:  電腦控制連續可調衰減率
- 可選激發光源
          皮秒脈沖半導體激光器  (多種波長可選)
          皮秒脈沖LEDs     (多種波長可選)
          皮秒脈沖固體激光器