美國parker派克DA200S磁軛探傷儀是美國派克生產的一款交直流兩用的磁粉探傷儀。操作簡單，攜帶方便。用于測量表面和近表面的缺陷。
DA200S磁軛探傷儀特點：

Versatility and powerful performance in a rugged, reliable instrument 
Constant AC or pulsed DC fields with the flip of a switch;
for the location of surface and some sub-surface defects 
Apply continuous or residual magnetic fields and demagnetize too 
Use with dry powder, wet fluorescent or visible 
High impact-molded housing 
One-year repair/replacement guarantee 
DA200S磁軛探傷儀技術參數：The DA-200 Contour Probe is a portable, self-contained instrument designed to produce a magnetic field on or within ferro-magnetic materials. The selective AC and pulsed DC functions are built into a single reliable instrument. 
The AC mode produces an intense AC field for detection of surface defects and demagnetizing after inspection. The DC mode produces an intense pulsed DC field for detection of some sub-surface defects. Combined with the flexibility of articulating legs and a rugged molded housing, the Contour Probe can be used on nearly any part or surface contour... in the lab, factory, or field site.

Your magnetic particle applications need the versatility and reliable performance advantages of the Parker Contour Probe. An industry standard with 35 years of NDT service.

SPECIFICATIONS

  DA200
 DA200S
 A210
 A210S
 
Physical 10.5" (266 mm) × 11.0" (280mm) × 2.75" (70mm)
 
Line Voltage Single Phase 115 VAC
50/60 Hz 230 VAC
50/60 Hz 115 VAC
50/60 Hz 230 VAC
50/60 Hz 
Line Current 
 
 6 A 
AC/DC
 4 A 
AC/DC
 8 A 
AC
 3 A 
AC
 
Duty Cycle 2 minutes on – 2 minutes off
 
Weight 13 lb (5.9 kg) 
Construction Glass-filled nylon housing
10 foot (3 m) 3-wire power cord
 
Span 18 in. (457 mm) across poles
 
Field AC/DC AC/DC AC AC