產地：韓國

技術參數 
活動范圍 150 x 120mm(70 x 50mm 移動距離) 
測量范圍 200Å~ 35㎛(根據膜的類型) 
光斑尺寸 20㎛ 典型值 
測量速度 1~2 sec./site 
應用領域 聚合體: PVA, PET, PP, PR ... 

電解質: SiO2 ,TiO2 , ITO , ZrO2 , Si3N4 .. 

半導體: Poly-Si, GaAs, GaN, InP, ZnS... 

選擇 參考樣品(K-MAC or KRISS or NIST) 
探頭類型 三目探頭 
nosepiece Quadruple Revolving Mechanism with Inward Tilt 
照明類型 12V 35W Halogen Lamp Built-in Control Device & Transformer
主要特點 尺寸 190 x 265 x 316 mm 
重量 12Kg 
類型 手動的 
測量樣本大小 ≤ 4" 
測量方法 非接觸式 
測量原理 反射計 
特征 測量迅速，操作簡單 

非接觸式，非破壞方式 

優秀的重復性和再現性 

用戶易操作界面 

每個影像打印和數據保存功能 

可測量多達3層 

可背面反射
儀器介紹 1996年以來，科美在半導體，平板顯示器，電子物質，生命科學和化學分析上，研發和提供了獨特的，先進的解決方案。科美，作為測量和分析技術市場上的領頭和動力，以它突出的表現得到了世界范圍的認可。