一、技術指標: 

分 析 范 圍: 1PPM-99.99% 
同 時 分 析: 幾十種元素同時分析 
測鍍層厚度精確至0.005微米 
測 量 對 象: 固體、粉未、液體 
測 量 時 間: 60-300 秒 
測 量 精 度 : 0.05% 
分 析 元 素: Na-U 
工 作 溫 度: 15-26℃ 
相 對 濕 度: ≤70% 
重 量 : 80KG 
功 耗: 200瓦 

二、儀 器 配 置： 

多樣自動進樣系統 
計算機、噴墨打印機 
真空泵（可選） 
壓片機（可選） 
硅針半導體探測器
放大電路
高低壓電源
X光管