2011年6月21日，由中國地質科學院地質研究所北京離子探針中心牽頭，聯合了中國計量科學研究院、復旦大學、中國科學院大連化學物理研究所和北京普析通用儀器有限責任公司等單位共同承擔的國家科技支撐計劃課題“二次離子質譜儀器核心技術及關鍵部件研究與開發”(編號：2006BAK03A21)在京順利通過驗收。課題驗收會由“十一五”國家科技支撐計劃重點項目“科學儀器設備研制與開發”的組織部門——國家質檢總局科技司主持召開，來自科技部、質檢總局、北京市、教育部、中科院、總裝備部和國土資源部等部門的20名專家、領導出席了會議。驗收專家組審閱了課題組提供的驗收資料和測試專家組提供的測試報告，聽取了課題執行情況自評價報告和課題研究等報告，經質詢和討論，專家組一致同意項目通過驗收。

　　課題形成了有關SIMS和TOF串聯質譜的新技術、新產品、新裝置和計算機軟件等共19項成果，其中5項已在相關領域成功應用，冷陰極雙等離子氣體源工藝研究等具有創新性。申請國內發明專利24項、國際發明專利6項。發表論文29篇，其中國際刊物發表5篇。

　　通過該課題的實施，新建和完善了5個質譜儀器關鍵部件研發基地和10多個研究試驗平臺，培養了一批優秀的質譜儀器研發人員，凝聚和造就了一支研發隊伍，為今后大型高端質譜儀器的自主研發奠定了基礎。

　　地質所北京離子探針中心在課題中完成了任務書規定的大型質譜儀器研發綜合平臺、離子源研發試驗平臺和自動換樣及三維微聚焦系統試驗平臺的搭建，一次氣體離子源、自動換樣系統和三維微聚焦系統以及相應的供電和自動控制系統的研發。中心主持了整個課題的實施，很好地協調了各參加單位的任務分工，圓滿地完成了任務，受到了專家領導的一致好評。