X熒光光譜儀EXF-7200
廠家負責人：尤先生            聯系電話：18924626640   
技術指標   
    分析范圍：1%～99.99% 
    測量時間：30～200秒  
    測量精度： ± 0.1%  
    測試環境：常溫常態   
    分析元素：金Au、銀Ag 、鉑Pt、鈀Pd、銠Rh 、釕Ru、銅Cu、鋅Zn、鎳Ni、鎘Cd
    X射線源：X射線光管   
    高壓器：4～50Kv  
    分析：多通道模擬   
    操作系統：Windows2000/Me/XP  
其它規格：   
    測量點尺寸：1～2mm  
  輸入電壓：100～127或200～240V,50/60 Hz  
    最大功率：128W  
    外形尺寸：長500mm*寬500mm*高350mm（最大處）
樣品室: 長400 mm×寬: 300mm×高: 0～90 mm樣品放大成像系統  
    重量：40kg 
環境溫度：15℃～30℃ 
環境濕度：35%～70%
硬件配置
光管：Mo靶的X光管 風冷 (斷電無輻射）   
高壓器：4～50KV
高低壓電源：100～127或200～240V,50/60 Hz
樣品室：長400 mm×寬300mm×高0～90 mm 
檢測器：固定式半導體封氣正比計數器微處理器控制的檢測器和讀出電路
樣品放大成像裝置：帶十字光標紅外線定位系統
軟件：XRF菜單式軟件，帶硬件參數調整和數據評估及計算   
預啟動穩定系統
儀器系統參數液晶顯示屏：操作人員可隨時通過顯示屏，觀察到設備電壓﹑電流﹑溫度等，能有效延長設備壽命。